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| 積層セラミックコンデンサ（MLCC）の測定に関する技術を提案いたします。 |
| 積層セラミックコンデンサ（MLCC）の測定に関する技術を提案 |
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整列機によりフィルムフレームに貼られたMLCCを測定 |
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容量測定、絶縁抵抗等を順次プロービング（※1）により測定 |
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測定システムの自社開発も可能（※2） |
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製品サイズの実績：最小 0.4mm x 0.2mm
（整列精度に関しては、弊社営業窓口までお問い合わせください） |
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同時測定の実績：40マルチ（2x20） |
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整列されたチップが規定数に満たない”端数チップ”にも対応可能（最終リングのみ） |
測定項目をいくつかにまとめ、それぞれの測定ごとに機能を持ったプローブカードを準備します。
例えば、CAP測定（容量測定）機能を持つプローブとIR測定（絶縁抵抗測定）機能を持つプローブを
1枚のプローブカード上に用意します。
最初のインデックスでCAP測定のみをおこない、次のインデックスでCAPとIR測定をおこないます。
これを順番に繰り返して測定します。
詳細は、弊社営業窓口までお問い合わせください。 |
| CAP |
：Capacitance の略 |
| IR |
：Insulation Resistance の略 |
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| 市販のベンチトップ型測定器を組み合わせて測定システムを開発します。 |
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