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| 室温下での超伝導デバイスのプロセス特性の評価 |
使用機器：マルチメータ , ソースメジャーユニット ,
ピコアンメータ |
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| 超伝導デバイスのプロセスごとの高抵抗、絶縁抵抗測定 |
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携帯電話向け
SAWフィルタ特性測定 |
| 使用機器：ネットワークアナライザ |
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| 中心周波数、最小挿入損失などのフィルタ特性を測定 |
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| 積層キャパシタの容量測定 |
| 使用機器：LCRメータ , 高圧電源 , PLC |
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| 0.5msec以下精度の一定間隔で測定トリガを出力し、容量測定 |
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通信・クロックモジュール向け
周波数測定 |
| 使用機器：ネットワークアナライザ |
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| 共振周波数、インピーダンス、等価定数を測定 |
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車載向け加速度センサ測定、
静電容量式圧力センサ測定 |
| 使用機器：LCRメータ |
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| バイアス電圧を変化させ静電容量検出方式での容量測定 |
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| フォトダイオード（PD、APD）のI-V特性測定 |
| 使用機器：SMU |
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| 電圧スイープ測定による逆方向、順方向のI-V特性を測定 |
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